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X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Reference Pages

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS or ESCA) curve fitting procedures, reference materials and useful notes are listed here to provide a starting point for the consistent interpretation of XPS spectra. These reference pages contain tips and techniques that are designed to help both the novice and advanced XPS user.

http://www.xpsfitting.com

Casa XPS

CasaXPS processing software offers powerful analysis techniques for both spectral and imaging data. The system originally designed for XPS and Auger data now offers features covering a wide range of analytical techniques including ToF SIMS, dynamic SIMS and many more.

http://www.casaxps.com

UKSAF

Le " UK Surface Analysis Forum" (UKSAF) est une société pour les scientifiques du monde universitaire et de l'industrie ayant un intérêt commun pour les techniques et les applications de l'analyse de surface.

http://www.uksaf.net/

SFV

La Société Française du Vide (SFV), dont le siège se situe à Paris, est un organisme de loi 1901 à but non lucratif qui regroupe depuis 1945 les utilisateurs des techniques du vide.
Son rôle est de créer et de développer des relations privilégiées entre les différents acteurs du milieu scientifique, du milieu académique et du milieu industriel. Déclarée d’utilité publique en 1957, elle joue un rôle primordial pour le transfert de connaissances scientifiques et techniques. Cette Association est au service des communautés scientifiques et industrielles en perpétuelle évolution. Elle est née de la volonté d'une poignée de scientifiques de créer une société savante dont le but serait de fédérer les personnes s'intéressant au vide, à ses techniques et à ses applications. Cette création fut inspirée par les travaux d'un illustre physicien français du nom de Fernand Holweck (1890-1941) qui inventa la pompe à vide moléculaire qui porte son nom.

https://www.vide.org/

Comité de Spectrocopie d'Electrons (SFV-CSE)

Les techniques de spectroscopies électroniques ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…), de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …) et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs).

https://www.vide.org/sfv/divisions/spectroscopie-electrons/